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3AP-CJ-100B5-高低温冷热冲击测试箱

  • 供应数量:384
  • 有效日期:2025/3/1
  • 更新时间:2024/11/29
  • 访  问  量:384

产品分类

详细介绍

高低温冷热冲击测试箱适用于电子电器零组件、通讯组件、自动化零部件、汽车配件、化学材料、金属、塑胶等行业、航天、防工业、BGA、兵工业、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物对高、低温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩的物理环境产出的化学变化或物理伤害,

高低温冷热冲击测试箱技术参数:

内箱尺寸:350×350×400;500×400×400;600×400×400;600×500×500;700×600×600;800×800×750

温度范围:A:-40℃~150℃;B:-55℃~150℃;-65℃~150℃

温度暴露范围:60℃~200℃

预热温度上限:200℃

温度波动范围:≤±2℃

温度上升时间:室温200℃≥45min

温度暴露范围:0℃/-75℃

预热温度下限:-75℃

温度波动范围:≤±2℃

温度降温时间:-75℃≤60min

温度转换时间:从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S

温度恢复时间:≤5min(与温度恢复条件有关,既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关)

温度波动:高温室及低温室均≤±2℃

样品区温度波动:≤±0.5℃(恒温时)

控制器:LED数显(P、I、D +S、S、R.)微电脑集成控制器

度范围:温度±0.1℃,指示度:温度±0.1℃,解析度:±0.1℃

制冷系统:半封闭水冷式压缩机组/“"/全封闭风冷复迭压缩制冷方式

循环系统:耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮


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