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3AP-CJ-80A6-三箱静态冷热冲击老化箱

  • 供应数量:39
  • 有效日期:2025/1/29
  • 更新时间:2024/10/29
  • 访  问  量:39

产品分类

详细介绍

三箱静态冷热冲击老化箱主要是测试电子产品在高温、低温瞬间变化的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验,主要用于各种各类型的电子产品在模拟冷温、热温时温度瞬间变化的气候条件下的适应性试验,对电子产品的物理以及其相关性能进行测试或试验。

三箱静态冷热冲击老化箱技术参数如下:

试验箱内尺寸mm:360X350X400;500X400X400;600X500X500

试验箱外尺寸mm:1550X1750X1450;1750X1800X1500;180X1850X1550

温度冲击范围:A:-40℃~+150℃;B:-55℃~+150℃;A:-65℃~+150℃

高温区预热温度:60℃ ~ 200℃

低温区预冷温度:-10℃~-55℃,-10℃~-65℃,-10℃~-75℃(此温度会根据测试区温度范围而调整)

温度恢复时间:3~5min

高温区预热温度升温时间:150℃/30min,150℃/40min,150℃/40min,150℃/40min

低温区预冷温度降温时间:

-40℃/60min, -55℃/70min, -65℃/80min

- 40℃/70min, -55℃/80min, -65℃/90min

-40℃/80min, -55℃/90min -65℃/100min

-40℃/90min, -55℃/100min, -65℃/110min

控制器:LED数显PID+SSR微电脑集成控制器

制冷系统:复叠式制冷系统

循环系统:耐高低温空调型电机、多叶式离心风轮

三箱静态冷热冲击老化箱



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