400-6727-800
产品分类
详细介绍
三箱式冷热循环冲击试验箱主要是测试电子产品在高温、低温瞬间变化的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验，主要用于各种各类型的电子产品在模拟冷温、热温时温度瞬间变化的气候条件下的适应性试验，对电子产品的物理以及其相关性能进行测试或试验。
三箱式冷热循环冲击试验箱技术参数如下：
内箱尺寸：36×35×40；45×40×40；50×45×45；60×50×50；70×60×60；80×75×60；80×80×75
测试区温度范围：A:-40℃～+150℃;B:-55℃～+150℃;A:-65℃～+150℃
高温区预热温度：60℃ ～ 200℃
低温区预冷温度：-10℃～-55℃,-10℃～-65℃,-10℃～-75℃
高温区预热温度升温时间：150℃/30min,150℃/40min,150℃/40min,150℃/40min
低温区预冷温度降温时间：
-40℃/60min, -55℃/70min, -65℃/80min
- 40℃/70min, -55℃/80min, -65℃/90min
-40℃/80min, -55℃/90min -65℃/100min
-40℃/90min, -55℃/100min, -65℃/110min
应用领域
电子电器零组件：用于测试电子元器件在温度下的性能和稳定性。
自动化零部件：确保自动化设备在温度变化中的可靠性和耐久性。
通讯组件：测试通讯设备在温度变化中的性能和稳定性。
汽车配件：评估汽车零部件在温度下的耐久性和可靠性。
金属、化学材料、塑胶：测试这些材料在温度变化中的物理和化学性质变化。
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